偶阶含权微分系统次谱的显式上界

作者：黄振明偶阶微分系统次谱瑞利商原理定量估计上界不等式

摘要：运用施图姆-刘维尔谱理论，对偶阶含权微分系统的低阶离散谱进行定量估计，首先，利用瑞利商原理得到一基本不等式，其次估计了若干积分式的上界或下界，为提高估计的精度，引入了一正参数δ，最后获得了用主谱的二次多项式来估计次谱的上界不等式，其结果是相关文献结论的进一步拓展。

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