HI,欢迎来到学术之家股权代码  102064
0

泄漏声发射传感器性能检测技术研究

作者:何攀 刘才学 杨泰波 王瑶 彭翠云声发射传感器性能检测

摘要:提出了利用压电晶体逆压电效应作为标准声源的声发射传感器的性能检测方法。在此基础上,设计实现了基于比较检测法的泄漏声发射传感器性能检测系统,并应用到泄漏声发射传感器辐照后的性能检测中。检测结果和传感器使用效果表明,该方法用于声发射传感器性能检测是可行的。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

机械与电子

《机械与电子》(CN:52-1052/TH)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《机械与电子》是全国性宣传报道机电一体化技术、工业控制、工业自动化的专业技术性科技期刊。在政策上具有指导性,在技术上具有引导性和实用性,在经验上具有示范性。适合机电行业科技人员、管理人员,大专院校师生及其他从事机电一体化、工业控制、工业自动化等人员阅读。

杂志详情