NaSrB5O9：Dy3＋荧光粉的XRD-Rietveld结构精修

作者：雒卫廷; 田澍; 王晓军nasrb5o9rietveld结构精修临界浓度

摘要：用高温固相法合成了NaSrB5O9：n%Dy3＋（n=0.5,0.8,1.0,1.5,2.0）荧光粉,通过XRD表征得出掺杂浓度高于2%时有杂锋出现.对NaSrB5O9：n%Dy3＋（1.0%,1.5%,2.0%）荧光粉进行Rietveld结构精修后发现,掺杂后的晶胞体积依次为：699.43（2）3、699.77（2）3、699.55（2）3,与未掺杂的基质晶胞体积V=699.16（2）3相比均变大,掺杂浓度为1.5%时晶胞体积最大,大于1.5%时有减小的趋势.以1.5%为临界浓度算出Dy3＋的临界距离为28.当Dy3＋浓度大于1.5%时,离子间相互作用增强,发生了能量转移导致发光强度下降.

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