温度梯度法BaY2F8晶体生长中的小面研究

作者：张守超 阮永丰 王帅 王友发 吴周礼bay2f8晶体小面生长组分过冷界面形状缺陷

摘要：采用温度梯度法生长了BaY2F8晶体,通过X射线定向仪确定晶体自发沿[001]方向生长。通过对不同截面的显微观察和分析,研究认为生长方向与竖直方向不平行是诱发（100）、（130）、（130）等小面生长的重要因素。由于温度的波动和径向温度梯度的存在,会造成晶体生长过程中的组分过冷,引发晶面上出现胞状凸起,影响了晶体的生长质量。

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