Gold OA文章占比:4.48%
OA被引用占比:0.0214...
开源占比:0.0259
研究类文章占比:99.16%
国际标准简称:INFRARED PHYS TECHN
人气 946
《Infrared Physics & Technology》是一本专注于INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION领域的English学术期刊,创刊于1994年,由Elsevier出版商出版,出版周期Bimonthly。该刊发文范围涵盖INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION等领域,旨在及时、准确、全面地报道国内外INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION工作者在该领域的科学研究等工作中取得的经验、科研成果、技术革新、学术动态等。该刊已被SCIE数据库收录,在中科院JCR最新升级版分区表中,该刊分区信息为大类学科物理与天体物理2区,2023年影响因子为3.1。
The Journal covers the entire field of infrared physics and technology: theory, experiment, application, devices and instrumentation. Infrared' is defined as covering the near, mid and far infrared (terahertz) regions from 0.75um (750nm) to 1mm (300GHz.) Submissions in the 300GHz to 100GHz region may be accepted at the editors discretion if their content is relevant to shorter wavelengths. Submissions must be primarily concerned with and directly relevant to this spectral region.
Its core topics can be summarized as the generation, propagation and detection, of infrared radiation; the associated optics, materials and devices; and its use in all fields of science, industry, engineering and medicine.
Infrared techniques occur in many different fields, notably spectroscopy and interferometry; material characterization and processing; atmospheric physics, astronomy and space research. Scientific aspects include lasers, quantum optics, quantum electronics, image processing and semiconductor physics. Some important applications are medical diagnostics and treatment, industrial inspection and environmental monitoring.
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
物理与天体物理 | 3区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 | 3区 3区 3区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
物理与天体物理 | 2区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 | 3区 3区 3区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
物理与天体物理 | 2区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 | 2区 3区 3区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
物理 | 3区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 | 3区 3区 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
物理与天体物理 | 2区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 OPTICS 光学 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 | 2区 3区 3区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
物理与天体物理 | 2区 | OPTICS 光学 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 | 2区 3区 3区 | 否 | 否 |
中科院分区:中科院分区是SCI期刊分区的一种,是由中国科学院国家科学图书馆制定出来的分区。主要有两个版本,即基础版和升级版。2019年中国科学院文献情报中心期刊分区表推出了升级版,实现了基础版和升级版的并存过渡;升级版是对基础版的延续和改进,将期刊由基础版的13个学科扩展至18个,科研评价将更加明确。
按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 25 / 76 |
67.8%
|
学科:OPTICS | SCIE | Q2 | 37 / 119 |
69.3%
|
学科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 63 / 179 |
65.1%
|
按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 24 / 76 |
69.08%
|
学科:OPTICS | SCIE | Q2 | 43 / 120 |
64.58%
|
学科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 55 / 179 |
69.55%
|
JCR分区:JCR(Journal Citation Reports)由科睿唯安公司(前身为汤森路透)开发。JCR没有设置大类,只将期刊分为176个具体学科,也就是中科院分区中的小类学科。基于不同学科的当年影响因子高低进行排序,将期刊的数量均匀分为四个部分,Q1区代表学科分类中影响因子排名前25%的期刊,以此类推,Q2区为前25%-50%期刊,Q3区为前50%-75%期刊,Q4区为75%以后期刊。
CiteScore排名:
学科类别 | 分区 | 排名 | 百分位 |
大类:Physics and Astronomy 小类:Condensed Matter Physics | Q2 | 116 / 434 |
73%
|
大类:Physics and Astronomy 小类:Atomic and Molecular Physics, and Optics | Q2 | 63 / 224 |
72%
|
大类:Physics and Astronomy 小类:Electronic, Optical and Magnetic Materials | Q2 | 83 / 284 |
70%
|
CiteScore值计算方式:例如2024公布的CiteScore是将统计在 2020年-2023年间年所发表文章的引用次数除以在 2020年-2023年间所发表的发文总数。
CiteScore数据来源:是由全球著名学术出版商Elsevier(爱思唯尔)基于其Scopus数据库推出的期刊评价指标。CiteScore指数以四年区间为基准来计算每本期刊的平均被引用次数,并提供期刊领域排名、期刊分区的相关信息,它的作用是测量期刊的篇均影响力。
近年中科院分区趋势图
近年IF值(影响因子)趋势图
影响因子:是美国科学信息研究所(ISI)的期刊引证报告(JCR)中的一项数据。指的是某一期刊的文章在特定年份或时期被引用的频率,是衡量学术期刊影响力的一个重要指标。自1975年以来,每年定期发布于“期刊引证报告”(JCR)。
国家/地区 | 发文量 |
CHINA MAINLAND | 690 |
India | 61 |
USA | 58 |
Iran | 39 |
England | 32 |
Poland | 30 |
Russia | 28 |
South Korea | 23 |
Canada | 22 |
Italy | 19 |
文章引用名称 | 引用次数 |
Optical remote sensing image... | 28 |
Towards a table-top synchrot... | 19 |
Robust contact-point detecti... | 19 |
Two dimensional materials ba... | 17 |
An overview of corrosion def... | 17 |
Nondestructive measurement o... | 16 |
Infrared and visible image f... | 16 |
An infrared small target det... | 12 |
Infrared small target detect... | 11 |
Midwave infrared barrier det... | 11 |
被引用期刊名称 | 数量 |
INFRARED PHYS TECHN | 721 |
IEEE ACCESS | 182 |
SENSORS-BASEL | 101 |
REMOTE SENS-BASEL | 85 |
OPTIK | 84 |
APPL OPTICS | 64 |
OPT QUANT ELECTRON | 61 |
APPL SCI-BASEL | 49 |
MATER RES EXPRESS | 49 |
OPT EXPRESS | 49 |
引用期刊名称 | 数量 |
INFRARED PHYS TECHN | 721 |
APPL PHYS LETT | 261 |
OPT EXPRESS | 195 |
APPL OPTICS | 172 |
IEEE T GEOSCI REMOTE | 163 |
J APPL PHYS | 155 |
NDT&E INT | 136 |
OPT LETT | 123 |
IEEE T IMAGE PROCESS | 116 |
J ELECTRON MATER | 105 |
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