《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》杂志是几区？

中科院分区在SCI期刊中具有重要地位，主要体现在以下几个方面：

投稿参考：中科院分区为科研人员选择投稿期刊提供了重要依据。高分区期刊通常具有较高的学术声誉和影响力，科研人员可以根据自己的研究领域和成果水平，选择合适分区的期刊投稿，提高论文被接受和发表的机会。

学术评价：国内许多高校和科研机构在对科研人员进行绩效考核、职称评定、科研奖励等方面，常常将中科院分区作为重要的评价指标之一。

学术影响力提升：进入中科院分区表是对期刊学术质量和影响力的一种认可，尤其是对于一些新兴期刊或发展中的期刊来说，获得较好的分区能够吸引更多优秀的稿件和读者，进一步提升期刊的学术影响力。

杂志简介

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》是一本在工程技术领域具有重要影响力的学术期刊，由出版社Springer US出版，出版地区为：UNITED STATES。

一、基本信息

创刊时间：1990年
出版周期：Bimonthly
ISSN：0923-8174，E-ISSN：1573-0727

定位：

《电子测试：理论与应用杂志》是传播电子测试领域研究和应用信息的国际论坛。这是唯一一本专门针对电子测试的杂志。《电子测试：理论与应用杂志》上发表的论文经过同行评审，以确保原创性、及时性和相关性。该杂志提供档案材料，并通过其快速的出版周期，努力将最新成果带给研究人员和从业人员。虽然它强调发表珍贵的未发表材料，但需要更广泛曝光的优秀会议论文，只要符合该杂志的同行评审标准，编辑也会酌情发表。 《电子测试：理论与应用杂志》还寻求清晰的调查和评论文章，以促进对最新技术的更好理解。

《电子测试：理论与应用杂志》的报道包括但不限于以下主题：

VLSI 设备印刷电路板和电子系统的测试；

模拟和数字电子电路的测试；

微处理器、存储器和信号处理设备的测试；

故障建模；

测试生成；

故障模拟；

可测试性分析；

可测试性设计；

可测试性综合；

内置自测试；

测试规范；

容错；

形式验证硬件；

验证模拟；

设计调试；

测试和诊断的人工智能方法和专家系统；

自动测试设备（ATE）；

测试夹具；

电子束测试系统；

测试编程；

测试数据分析；

测试经济性；

质量和可靠性；

CAD 工具；

晶圆级集成器件测试；

可靠系统测试；

制造良率和良率改进设计；

故障模式分析和工艺改进

二、内容特色

内容特色：文章风格兼顾专业性与可读性，适合不同背景的读者。

三、学科领域与覆盖范围

主要学科：工程技术-工程：电子与电气。
覆盖范围：该刊发文范围涵盖ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC等领域。

四、学术影响力与评价

影响因子与分区：《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》杂志的影响因子为1.1 ，JCR分区：Q4区，中科院分区：大类学科：工程技术，分区：4区，小类学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：电子与电气，分区：4区。

发文量与Gold OA占比：年发文量：43，Gold OA文章占比：9.56%。