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LTE芯片和终端测试综述

终端测试lte芯片综述中国移动测试解决方案测试系统测试仪表

摘要:随着TD-LTE试验网在世博会和亚运会的精彩亮相,以及2011年中国移动投入巨资进行的6+1城市试验网建设,业界对中国移动TD-LTE的前景充满期待。测试仪表和测试系统作为TD-LTE产业链中重要的环节,位于产业链的上游,对于产品研发和产业化起着非常关键的作用。并且由于LTE和之前的系统在空中接口上存在很大的不同,所以对于测试就提出了新的挑战和要求。目前,对TD-LTE测试仪表的需求已经涵盖了整个产业链的各个阶段。罗德与施瓦茨中国有限公司的《LTE芯片和终端测试综述》一文介绍了R&S的LTE测试解决方案,并对LTE芯片和终端研发进行了详细的分析和研究,最后针对LTE的终端生产提出了解决方案——R&S的CMW500无线综测仪。

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信息通信技术与政策

《信息通信技术与政策》(CN:10-1576/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《信息通信技术与政策》杂志旨在贯穿政府颁布的电信网技术体制、标准、规范、提供与新技术、新装备有关的各种网络规划的解决方案,以及系统、终端设备入网检测信息、咨询,增进中外电信界的相互了解,促进电信主管、经营、科研、生产部门的交流与合作,搭建中外电信企业间及广大用户间的信息桥梁。

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